flash檢測方法及其檢測系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110773246.2 申請日 -
公開（公告）號 CN113421606A 公開（公告）日 2021-09-21
申請公布號 CN113421606A 申請公布日 2021-09-21
分類號 G11C29/08（2006.01）I 分類 信息存儲;
發(fā)明人 楊磊 申請（專利權(quán)）人 成都盛芯微科技有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 610041四川省成都市高新區(qū)天府五街200號1號樓A區(qū)4樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種flash檢測方法及其檢測系統(tǒng)，涉及存儲技術(shù)領(lǐng)域。該flash檢測方法包括以下步驟：S1、檢測芯片內(nèi)部是否包括flash存儲器：若否，則進(jìn)入步驟S5；若是，則進(jìn)入步驟S2；S2、讀取所述flash存儲器的存儲內(nèi)容；S3、將所述flash存儲器內(nèi)的存儲內(nèi)容通過預(yù)設(shè)的計算方法進(jìn)行計算，并將存儲內(nèi)容計算結(jié)果與預(yù)存的校驗值進(jìn)行對比；S4、判斷所述存儲內(nèi)容計算結(jié)果與所述校驗值是否相同：若不相同，則進(jìn)入步驟S5；若相同，則發(fā)送檢測工作完成標(biāo)志；S5、接收外部命令進(jìn)行flash自測：若flash存儲器檢測出壞塊，則標(biāo)記壞塊位置，發(fā)送壞塊位置和檢測工作完成標(biāo)志；若flash存儲器無壞塊，則發(fā)送檢測工作完成標(biāo)志。本發(fā)明的檢測方法簡單、方便，且不受TAP限速。