存儲單元的讀取電壓優(yōu)化方法、3D存儲器的控制器及其操作方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110441613.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113223593A | 公開(公告)日 | 2021-08-06 |
申請公布號 | CN113223593A | 申請公布日 | 2021-08-06 |
分類號 | G11C16/26(2006.01)I;G11C16/34(2006.01)I;G06F11/10(2006.01)I | 分類 | 信息存儲; |
發(fā)明人 | 張旭航;喻小帆;肖自鏵;曹芮 | 申請(專利權(quán))人 | 聯(lián)蕓科技(杭州)股份有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京成創(chuàng)同維知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 劉靜;李秀霞 |
地址 | 310051浙江省杭州市濱江區(qū)阡陌路459號聚光中心C1座6樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種存儲單元的讀取電壓優(yōu)化方法,存儲單元選自與選定物理頁對應(yīng)的多個存儲單元;讀取電壓的優(yōu)化方法包括:對具有第一閾值電壓的存儲單元的數(shù)量進(jìn)行統(tǒng)計,得到第一數(shù)量;對具有第二閾值電壓的存儲單元的數(shù)量進(jìn)行統(tǒng)計,得到第二數(shù)量;基于第一數(shù)量、第二數(shù)量以及調(diào)節(jié)參數(shù),設(shè)置最優(yōu)讀取電壓;其中,根據(jù)數(shù)據(jù)保存時間、讀干擾、交叉溫度和編程/擦除次數(shù)的不同,設(shè)置不同的調(diào)節(jié)參數(shù);本發(fā)明提供的存儲單元的讀取電壓優(yōu)化方法、3D存儲器的控制器及其操作方法,在設(shè)置最優(yōu)讀取電壓時,只需讀取有限次數(shù),有效降低了確定最優(yōu)讀取電壓的時延,并且基于讀干擾、編程/擦除次數(shù)等參數(shù)來設(shè)置調(diào)節(jié)參數(shù),提高產(chǎn)品的準(zhǔn)確性和可靠性。 |
