X射線源陰極檢測(cè)方法、檢測(cè)系統(tǒng)及X射線成像系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201911050792.2 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN110831310A 公開(kāi)（公告）日 2020-02-21
申請(qǐng)公布號(hào) CN110831310A 申請(qǐng)公布日 2020-02-21
分類號(hào) H05G1/26;H05G1/54 分類 其他類目不包含的電技術(shù);
發(fā)明人 唐華平;李科;董超;秦占峰;張慶輝 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 新鴻電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 代理人 新鴻電子有限公司
地址 213200 江蘇省常州市金壇區(qū)華城中路1668號(hào)國(guó)際工業(yè)城6號(hào)樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種X射線源陰極檢測(cè)方法、檢測(cè)系統(tǒng)及其使用該檢測(cè)系統(tǒng)的X射線成像系統(tǒng)，該方法包括以下步驟：檢測(cè)X射線源陰極的工作狀況并獲得相應(yīng)的工作參數(shù)；獲得X射線源陰極的老化曲線數(shù)據(jù)，其中，所述老化曲線數(shù)據(jù)包括環(huán)境參數(shù)和/或陰極型號(hào)參數(shù)、批次參數(shù)；根據(jù)獲得的工作參數(shù)和對(duì)應(yīng)的老化曲線數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算；以及根據(jù)計(jì)算的結(jié)果獲得檢測(cè)結(jié)果，所述檢測(cè)結(jié)果包括陰極的剩余使用壽命和/或故障概率；根據(jù)所述計(jì)算結(jié)果，生成陰極使用列表，在發(fā)現(xiàn)高故障概率的情況下，調(diào)整陰極使用列表以從所述陰極使用列表中移除高故障概率的陰極。