一種溫控箱內(nèi)的芯片測(cè)試支架

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201921397960.0 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN211123139U 公開(公告)日 2020-07-28
申請(qǐng)公布號(hào) CN211123139U 申請(qǐng)公布日 2020-07-28
分類號(hào) G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 許斌 申請(qǐng)(專利權(quán))人 中國(guó)工商銀行股份有限公司上海市松江支行
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 201619上海市松江區(qū)洞涇鎮(zhèn)洞厙路601號(hào)4棟2樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提供的溫控箱內(nèi)的芯片測(cè)試支架。所述設(shè)備分為左右兩部分支架,左右兩部支架分別由相同的模塊組成。支架的左右部分采用滑道設(shè)計(jì),可通過滑道移動(dòng),放大和縮小整個(gè)支架,方便在狹小的空間內(nèi)進(jìn)行排線的安裝和維護(hù)。溫箱內(nèi)的測(cè)試支架通過排線連接外部的測(cè)試電腦,排線的一端(連接測(cè)試基板端)固定在支架的模塊上,測(cè)試基板沿著兩邊的導(dǎo)向滑道模塊插入排線的固定端的接口內(nèi),這樣相同的多組導(dǎo)向滑道模塊排線固定模塊和排線都固定在左右兩部分的支架上,最大限度的提高了測(cè)試數(shù)量,減少了空間的浪費(fèi),支架上的導(dǎo)向滑槽模塊,方便了芯片在測(cè)試中取放,提高了效率。??