一種集成電路芯片內(nèi)部參考電壓的校準(zhǔn)方法、裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410079616.2 申請日 -
公開（公告）號 CN103901336A 公開（公告）日 2014-07-02
申請公布號 CN103901336A 申請公布日 2014-07-02
分類號 G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉鵬飛;鄭育盛 申請（專利權(quán)）人 江蘇欣銳新能源技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州三環(huán)專利代理有限公司 代理人 郝傳鑫;熊永強(qiáng)
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)桃源街道塘嶺路1號金騏智谷大廈5樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實(shí)施例公開了一種集成電路芯片內(nèi)部參考電壓的校準(zhǔn)方法和裝置，校準(zhǔn)方法包括：將與所述集成電路芯片連接的恒定供電電壓作為所述集成電路芯片模數(shù)轉(zhuǎn)換初始化的基準(zhǔn)電壓；根據(jù)所述基準(zhǔn)電壓，對所述集成電路芯片內(nèi)部的參考電壓進(jìn)行校準(zhǔn)；其中，所述對所述集成電路芯片內(nèi)部的參考電壓進(jìn)行校準(zhǔn)包括：采集所述集成電路芯片內(nèi)部的參考電壓值，將參考電壓校準(zhǔn)值設(shè)置為所述參考電壓值。相應(yīng)地，本發(fā)明實(shí)施例還公開了使用上述校準(zhǔn)方法校準(zhǔn)的內(nèi)部參考電壓來對集成電路芯片采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行校準(zhǔn)的方法和裝置。實(shí)施本發(fā)明實(shí)施例，可簡單方便地對集成電路芯片的參考電壓進(jìn)行校準(zhǔn)，進(jìn)而對集成電路芯片采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行校準(zhǔn)，保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。