基于多尺度超像素和相位相關的窄基線視差的重構方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910491539.4 申請日 -
公開（公告）號 CN110211169B 公開（公告）日 2021-05-11
申請公布號 CN110211169B 申請公布日 2021-05-11
分類號 G06T7/593 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 葉真;徐聿升;潘玥;顧振雄 申請（專利權）人 上海黑塞智能科技有限公司
代理機構 上?？剖⒅R產(chǎn)權代理有限公司 代理人 趙繼明
地址 200092 上海市楊浦區(qū)國康路100號2層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于多尺度超像素和相位相關的窄基線視差的重構方法，該方法包括以下分步驟：步驟1：采用傅里葉?梅林變換方法獲取兩個輸入圖像之間的全局相似變換模型；步驟2：通過多尺度超像素方法對全局相似變換模型進行像素極誤差估計，獲得像素極誤差估計結果；步驟3：針對像素極誤差估計結果采用基于奇異值分解和隨機采樣一致性的亞像素相位相關方法進行亞像素精度獲取操作并進一步得到最終窄基線視差結果；步驟4：根據(jù)最終窄基線視差結果對圖像進行三維信息重構。與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明具有精度高，魯棒性好，低紋理區(qū)域匹配效率高等優(yōu)點。