一種電解質(zhì)涂層檢測(cè)方法及系統(tǒng)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201610896854.1 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN106370116B | 公開(公告)日 | 2019-02-26 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN106370116B | 申請(qǐng)公布日 | 2019-02-26 |
分類號(hào) | G01B11/06 | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 楊維元 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 四川賽爾雷新能源科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 610041 四川省成都市科華北路99號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種電解質(zhì)涂層檢測(cè)方法及系統(tǒng),系統(tǒng)包括發(fā)射源、接收裝置、計(jì)算模塊、檢測(cè)判斷模塊和自動(dòng)調(diào)整模塊;發(fā)射源主要實(shí)現(xiàn)向電解質(zhì)涂層發(fā)射X射線或者伽馬射線;接收裝置實(shí)現(xiàn)接收從電解質(zhì)涂層投射下來(lái)的X射線或者伽馬射線;涂布機(jī)負(fù)責(zé)對(duì)在極片在涂布電解質(zhì);計(jì)算模塊主要是計(jì)算出電解質(zhì)涂層吸收的檢測(cè)光,從而推算出電解質(zhì)涂層的厚度;檢測(cè)判斷模塊主要是檢測(cè)判斷電解質(zhì)涂層的厚度,并生成反饋信號(hào)反饋給涂布控制結(jié)構(gòu);自動(dòng)調(diào)整模塊主要是根據(jù)反饋信號(hào)對(duì)涂布機(jī)的涂布厚度進(jìn)行動(dòng)態(tài)的調(diào)整,保證電解質(zhì)涂層厚度的均勻性。本發(fā)明采用X射線或伽馬射線作為發(fā)射源進(jìn)行非接觸式實(shí)時(shí)測(cè)量,實(shí)現(xiàn)高精度動(dòng)態(tài)檢測(cè)和閉環(huán)控制,大幅度提升產(chǎn)品的一致性。 |
