一種控溫的半導體電學特性測試樣品架

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201820836350.5 申請日 -
公開（公告）號 CN208207006U 公開（公告）日 2018-12-07
申請公布號 CN208207006U 申請公布日 2018-12-07
分類號 G01R1/02;G01R1/04 分類 測量；測試;
發(fā)明人 祝老二 申請（專利權）人 重慶博視知識產權服務有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 325002 浙江省溫州市鹿城區(qū)錦繡路浙南農副產品中心市場(四區(qū))溫州市優(yōu)質農產品展示展銷中心大樓8層802室(托管-51)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種控溫的半導體電學特性測試樣品架，屬于樣品架領域，包括主底座，主底座的上端固定連接有保護殼體和照度計，保護殼體的上端固定連接有第一蓄電池，保護殼體固定連接有LED可調光，保護殼體的內下側設有第二蓄電池，第二蓄電池與主底座固定連接，第二蓄電池的右端電性連接有半導體放置盒，半導體放置盒的右端電性連接有電線，電線的上端電性連接有高壓鈉燈，半導體放置盒的上端開鑿有半導體放置凹槽，半導體放置盒的上端固定連接有一對拉伸彈簧，拉板的上端開鑿有螺紋通孔，螺紋通孔內端螺紋連接有螺紋桿，可以有效的測量半導體在不同光照強度下的導電性能，方便技術人員的實驗研究，非常具有實用性。