一種基于納米材料光熱效應(yīng)的細(xì)胞檢測方法及其裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201510045324.1 申請日 -
公開（公告）號 CN104655594B 公開（公告）日 2017-07-21
申請公布號 CN104655594B 申請公布日 2017-07-21
分類號 G01N21/63(2006.01)I;G01N33/574(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張鴻雁;鄭艷蘋;劉靜靜;周建華 申請（專利權(quán)）人 山東師大瑞柏生物科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 濟(jì)南圣達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 楊琪;崔苗苗
地址 250000 山東省濟(jì)南市高新區(qū)創(chuàng)新谷海棠路8588號西城軟件園A-802
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種基于納米材料光熱效應(yīng)的細(xì)胞檢測方法及其裝置，檢測步驟如下：(1)將待檢測細(xì)胞溶液離心，棄上清，PBS復(fù)溶后再離心；重復(fù)操作，棄上清，用10μL?PBS緩沖液將離心沉淀溶解；(2)將處理好的細(xì)胞樣品滴加到滲濾試紙條上加樣區(qū)內(nèi)，PBST溶液沖洗三次；(3)再向滲濾試紙條的加樣區(qū)內(nèi)加入5?20μL石墨烯?金?抗體復(fù)合物，PBST溶液沖洗三次并晾干；(4)用激發(fā)波長為808nm的激光照射檢測裝置的加樣區(qū)10～90s，記錄照射前后的溫度，計(jì)算溫度差，以細(xì)胞數(shù)為橫坐標(biāo)，溫度差為縱坐標(biāo)繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線；對某一樣品，可通過測定樣品的溫度差，代入標(biāo)準(zhǔn)曲線，計(jì)算細(xì)胞數(shù)。本發(fā)明的檢測裝置及方法具有檢測方法簡單、檢測時間短、檢測靈敏度高等優(yōu)點(diǎn)。