商標(biāo)進度

商標(biāo)申請
2021-10-20
初審公告
2021-12-27
已注冊
終止
商標(biāo)詳情
商標(biāo) |
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山
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商標(biāo)名稱 | 山原盈視 | 商標(biāo)狀態(tài) | 初審公告 |
申請日期 | 2021-10-20 | 申請/注冊號 | 59967079 |
國際分類 | 42類-網(wǎng)站服務(wù) | 是否共有商標(biāo) | 否 |
申請人名稱(中文) | 東莞奧美特科技有限公司 | 申請人名稱(英文) | - |
申請人地址(中文) | 廣東省東莞市塘廈鎮(zhèn)科苑城信息產(chǎn)業(yè)園沙坪路2號奧美特智能產(chǎn)業(yè)園A棟 | 申請人地址(英文) | - |
商標(biāo)類型 | 商標(biāo)注冊申請---受理通知書發(fā)文 | 商標(biāo)形式 | - |
初審公告期號 | 1773 | 初審公告日期 | 2021-12-27 |
注冊公告期號 | 59967079 | 注冊公告日期 | - |
優(yōu)先權(quán)日期 | - | 代理/辦理機構(gòu) | - |
國際注冊日 | - | 后期指定日期 | - |
專用權(quán)期限 | - | ||
商標(biāo)公告 | - | ||
商品/服務(wù) |
半導(dǎo)體的設(shè)計(4209)
半導(dǎo)體封裝設(shè)計(4209)
半導(dǎo)體加工技術(shù)研究(4209)
產(chǎn)品質(zhì)量檢測(4209)
電氣工程領(lǐng)域的設(shè)備檢測(4214)
光學(xué)組件的設(shè)計(4209)
集成電路的設(shè)計(4209)
集成電路設(shè)計(4209)
計算機平臺的開發(fā)(4220)
軟件設(shè)計和開發(fā)(4220)
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商標(biāo)流程 |
2021-10-20
商標(biāo)注冊申請---申請收文
2021-11-06
商標(biāo)注冊申請---受理通知書發(fā)文 |
