三維掃描方法和三維掃描設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011145649.4 申請日 -
公開（公告）號 CN112268525A 公開（公告）日 2021-01-26
申請公布號 CN112268525A 申請公布日 2021-01-26
分類號 G01B11/25 分類 測量；測試;
發(fā)明人 杜華;董偉超;李仁舉 申請（專利權(quán)）人 杭州先臨天遠(yuǎn)三維檢測技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京開陽星知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 安偉
地址 311258 浙江省杭州市蕭山區(qū)聞堰街道湘濱路1398號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開涉及一種三維掃描設(shè)備和三維掃描方法，該三維掃描設(shè)備包括：至少兩個圖像采集傳感器，用于采集待測物體表面的圖像；雙目視覺測量計算器，用于對所述圖像中待測物體表面特征進(jìn)行三維重建；全局誤差控制計算器，用于對所述圖像中待測物體表面特征進(jìn)行計算；比例尺計算器，用于基于所述雙目視覺測量計算器和所述全局誤差控制計算器輸出的三維數(shù)據(jù)集，確定比例尺，以還原待測物體。本公開實施例提供的技術(shù)方案，將攝影測量和三維掃描一體化，無需編碼點和高成本且占用較大空間的比例尺實物，從而在可控制全局誤差的同時，降低整體解決方案的成本和復(fù)雜度，使得三維掃描設(shè)備的結(jié)構(gòu)簡單，便于攜帶。