一種高精度TOFD掃查架
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202021819375.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN213022991U | 公開(公告)日 | 2021-04-20 |
申請公布號 | CN213022991U | 申請公布日 | 2021-04-20 |
分類號 | G01N29/265(2006.01)I;G01N29/04(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 馬青;于軍;王海軍;韋家;劉春波 | 申請(專利權(quán))人 | 鎮(zhèn)江新華電工程質(zhì)量檢測有限責(zé)任公司 |
代理機構(gòu) | 北京維正專利代理有限公司 | 代理人 | 盛天亮 |
地址 | 212000江蘇省鎮(zhèn)江市學(xué)府路28號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請涉及一種高精度TOFD掃查架,涉及TOFD掃查架的領(lǐng)域,其包括相互連接的架體和手柄,所述架體沿其長度方向的兩端均設(shè)有移動裝置,所述架體遠(yuǎn)離手柄的一端設(shè)有支撐架,所述支撐架上設(shè)有探查裝置,所述探查裝置沿支撐架的長度方向相對設(shè)置;所述探查裝置包括探查塊和探查桿,所述探查塊朝向待測面開設(shè)有滑槽,所述探查桿滑動連接于滑槽內(nèi),所述探查桿與滑槽的槽底間設(shè)有要鎖彈簧,所述探查桿遠(yuǎn)離探查塊的一端設(shè)有探頭,所述探頭用于與待測面抵接。本申請具有減少探頭不與待測面貼合而造成探測不完全的可能、使得得到的缺陷數(shù)據(jù)更為準(zhǔn)確的效果。?? |
