一種碳化硅二極管場限環(huán)終端結(jié)構(gòu)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202023208121.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN213816163U | 公開(公告)日 | 2021-07-27 |
申請公布號 | CN213816163U | 申請公布日 | 2021-07-27 |
分類號 | H01L29/861(2006.01);H01L29/06(2006.01);H01L29/16(2006.01) | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 楊勇;張光亞;朱勇華;付國振 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳市美浦森半導體有限公司 |
代理機構(gòu) | 中山市科企聯(lián)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 楊立銘 |
地址 | 518000 廣東省深圳市南山區(qū)招商街道水灣社區(qū)太子路22號金融中心大廈1601 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型提供的一種碳化硅二極管場限環(huán)終端結(jié)構(gòu),包括:碳化硅N型半導體襯底,在N型外延層靠頂部設(shè)置JTE主結(jié)區(qū),在所述JTE主結(jié)區(qū)的附近設(shè)置四個附加的外側(cè)P?環(huán),JTE主結(jié)區(qū)和外側(cè)P?環(huán)的結(jié)深為0.5?1微米,JTE主結(jié)區(qū)的寬度為20?30微米,所述外側(cè)P?環(huán)的環(huán)間距為2?3微米,環(huán)寬為4?8微米,所述JTE主結(jié)區(qū)的頂部部分覆蓋設(shè)置正面金屬,所述正面金屬的另一部分設(shè)置在所述的N型外延層的頂部,所述碳化硅N型半導體襯底的底部設(shè)置背面金屬。通過設(shè)置JTE主結(jié)區(qū)和外側(cè)P?環(huán),當JTE主結(jié)區(qū)區(qū)域被耗盡時,外側(cè)附加的四個外側(cè)P?環(huán)也會被包圍進入N型漂移區(qū)的耗盡區(qū),P?環(huán)內(nèi)部被部分耗盡,JTE主結(jié)區(qū)的利用率變高,有效提高終端效率并獲得較高的電壓,而且摻雜濃度可控。 |
