一種光器件耦合測試用帶衰減光纖跳線

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201620113670.9 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN205374822U 公開（公告）日 2016-07-06
申請公布號(hào) CN205374822U 申請公布日 2016-07-06
分類號(hào) G02B6/38(2006.01)I 分類 光學(xué);
發(fā)明人 嚴(yán)付安;杜金能 申請（專利權(quán)）人 四川燦光光電有限公司
代理機(jī)構(gòu) 武漢宇晨專利事務(wù)所 代理人 李鵬;王敏鋒
地址 620500 四川省眉山市仁壽縣文林工業(yè)園區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種光器件耦合測試用帶衰減光纖跳線，包括光接頭，光接頭與光纖一端連接，光纖另一端依次穿過尾套、安裝筒并與插芯座一端連接，插芯座另一端與插芯一端連接，插芯座上套設(shè)有彈簧，安裝筒內(nèi)設(shè)置有凸臺(tái)，插芯座上設(shè)置有限位環(huán)，彈簧兩端分別與凸臺(tái)和限位環(huán)相抵，安裝筒外套設(shè)有內(nèi)殼，內(nèi)殼外套設(shè)有外殼，外殼與尾套連接，插芯另一端為測試端，測試端依次穿出內(nèi)殼和外殼，測試端的端面上設(shè)置有銅套安裝柱，銅套安裝柱上安裝有銅套，銅套的外徑與測試端的外徑相同，銅套的端面的中心設(shè)置有光通孔。本實(shí)用新型采用銅套進(jìn)行陶瓷插芯端面非接觸的隔離介質(zhì)，待測光器件的陶瓷插芯與銅套接觸不會(huì)導(dǎo)致待測光器件的陶瓷插芯端面碰傷。