一種超導器件低溫測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910599257.6 申請日 -
公開（公告）號 CN110297197B 公開（公告）日 2022-03-18
申請公布號 CN110297197B 申請公布日 2022-03-18
分類號 G01R33/12（2006.01）I;G01R31/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李建國;洪國同;劉彥杰;王娟;梁驚濤 申請（專利權）人 中國科學院理化技術研究所
代理機構 深圳市科進知識產權代理事務所（普通合伙） 代理人 曹衛(wèi)良
地址 100190北京市海淀區(qū)中關村東路29號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供的超導器件低溫測試裝置，通過設置在插入液氦杜瓦內部連接桿側面的小孔，以及設置在連接桿上端的氦氣排出口，可以將杜瓦內部的冷氦氣通過連接桿內部排出杜瓦外，結合連接桿內部線纜隔板的設置，可以充分利用冷氦氣的顯熱來冷卻線纜，進而隔絕線纜的傳導漏熱，實現測試裝置的高效絕熱。