一種基于低溫環(huán)境的測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202122457488.9 申請日 -
公開（公告）號 CN216083026U 公開（公告）日 2022-03-18
申請公布號 CN216083026U 申請公布日 2022-03-18
分類號 G01R31/34（2006.01）I;G01R31/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 呂翠;蘇和;商晉;伍繼浩 申請（專利權(quán)）人 中國科學(xué)院理化技術(shù)研究所
代理機構(gòu) 深圳市科進(jìn)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 劉春麗
地址 100190北京市海淀區(qū)中關(guān)村東路29號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型適用于低溫測試領(lǐng)域，公開了基于低溫環(huán)境的測試裝置，該測試裝置用于測試待測設(shè)備在低溫環(huán)境下的轉(zhuǎn)速以及相應(yīng)轉(zhuǎn)速下待測設(shè)備的振動狀態(tài)，其包括外殼組件、內(nèi)殼組件以及傳感器組件，內(nèi)殼組件設(shè)于外殼組件的第一腔體中，并與外殼組件可拆卸連接，測試裝置能夠?qū)?nèi)殼組件抽真空，并能夠在內(nèi)殼組件內(nèi)部灌注液氦，使待測設(shè)備浸沒在液氦中進(jìn)行高速轉(zhuǎn)動測試，同時能夠?qū)⑼鈿そM件內(nèi)部抽中空，從而能夠在真空環(huán)境和低溫環(huán)境下對待測設(shè)備進(jìn)行測試，測試精度高，而且由于外殼組件內(nèi)部處于真空環(huán)境，能夠有效減小傳熱，節(jié)省試驗液氮用量。