放大成像裝置及電子元件檢測設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022063227.4 申請日 -
公開（公告）號 CN213516896U 公開（公告）日 2021-06-22
申請公布號 CN213516896U 申請公布日 2021-06-22
分類號 G01N21/84（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 范超;范煒 申請（專利權(quán)）人 重慶金籟科技股份有限公司
代理機構(gòu) 北京化育知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 涂琪順
地址 408200重慶市豐都縣水天坪工業(yè)園區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供一種放大成像裝置及電子元件檢測設(shè)備，涉及電子元件檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，為解決現(xiàn)有技術(shù)中對電子元件進行放大觀測時，直接利用放大鏡片進行人工觀測，導致觀測精度低，觀測效率低的問題而設(shè)計。本實用新型提供的放大成像裝置，包括放大鏡頭、載物臺、光電成像儀器以及顯示器；載物臺用于承載待成像元件，放大鏡頭安裝于光電成像儀器的輸入端，放大鏡頭朝向待成像元件設(shè)置，光電成像儀器與顯示器電氣連接。本實用新型還提供一種電子元件檢測設(shè)備，包括上述的放大成像裝置。