一種多層軟硬結(jié)合線路板的缺陷測試方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110396990.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113109698A | 公開(公告)日 | 2021-07-13 |
申請公布號 | CN113109698A | 申請公布日 | 2021-07-13 |
分類號 | G01R31/28(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 楊林;楊承杰 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳市三維電路科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京易捷勝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 韓國勝 |
地址 | 518104廣東省深圳市寶安區(qū)沙井街道和一社區(qū)蠔四西部工業(yè)區(qū)3棟二樓R區(qū) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種多層軟硬結(jié)合線路板的缺陷測試方法,方法包括:S1設(shè)計多層軟硬結(jié)合線路板時,確定具有線路的內(nèi)層板中測試線路的信息及每一測試線路的引線信息;S2在制備到內(nèi)層板的測試線路時,增加每一測試線路的引線,引線一端連接測試線路,另一端延伸出多層軟硬結(jié)合線路板;S3設(shè)置內(nèi)層引線穿通的PTH孔;S4將所有引線穿過金屬化孔連接到外層線路板蝕刻后的測試點(diǎn)上以實現(xiàn)對同一平面的測試點(diǎn)進(jìn)行測試;S5在激光鐳射工序中去除引線。本發(fā)明的方法可以解決現(xiàn)有技術(shù)中在半成品的時候并不能進(jìn)行開短路等功能缺陷測試的問題,同時解決了在成品測試的時候需要測試的外層線路和內(nèi)層軟板線路不在同一高度的缺陷。 |
