一種光學(xué)探測器響應(yīng)時間的測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022713882.X 申請日 -
公開（公告）號 CN213779453U 公開（公告）日 2021-07-23
申請公布號 CN213779453U 申請公布日 2021-07-23
分類號 G01M11/02（2006.01）I;G01B5/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 孫冶 申請（專利權(quán)）人 中科強光（天津）光電科技有限公司
代理機構(gòu) 北京神州信德知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 劉真
地址 300457天津市濱海新區(qū)經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)第五大街41號（天津開泰企業(yè)孵化器有限公司園區(qū)）C9-1-1
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，且公開了一種光學(xué)探測器響應(yīng)時間的測試裝置，包括光學(xué)探測器本體，所述光學(xué)探測器本體的底部搭接有測試工作臺，所述測試工作臺的頂部設(shè)置有測試裝置，且所述測試工作臺的頂部固定連接有透光計時板，所述測試裝置包括測試移動光源架，所述移動光源架的頂部電連接有測試LED燈。該光學(xué)探測器響應(yīng)時間的測試裝置，通過旋轉(zhuǎn)滑動滑塊與透光計時板之間的夾角，可以改變光學(xué)探測器本體與光源發(fā)射光線的夾角，接著滑動移動光源架可以改變測試LED燈在滑動滑塊上的位置，改變光學(xué)探測器本體與光源之間的間距，同時在轉(zhuǎn)動和滑動的過程中可以通過刻度尺和量角器讀出光源位置準(zhǔn)確改變的參數(shù)，從而達到精確調(diào)節(jié)測試光源的效果。