一種光學(xué)探測(cè)器響應(yīng)時(shí)間的測(cè)試裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202022713882.X | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN213779453U | 公開（公告）日 | 2021-07-23 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN213779453U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-07-23 |
| 分類號(hào) | G01M11/02（2006.01）I;G01B5/02（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 孫冶 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 中科強(qiáng)光（天津）光電科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京神州信德知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 劉真 |
| 地址 | 300457天津市濱海新區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)第五大街41號(hào)（天津開泰企業(yè)孵化器有限公司園區(qū)）C9-1-1 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型涉及檢測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，且公開了一種光學(xué)探測(cè)器響應(yīng)時(shí)間的測(cè)試裝置，包括光學(xué)探測(cè)器本體，所述光學(xué)探測(cè)器本體的底部搭接有測(cè)試工作臺(tái)，所述測(cè)試工作臺(tái)的頂部設(shè)置有測(cè)試裝置，且所述測(cè)試工作臺(tái)的頂部固定連接有透光計(jì)時(shí)板，所述測(cè)試裝置包括測(cè)試移動(dòng)光源架，所述移動(dòng)光源架的頂部電連接有測(cè)試LED燈。該光學(xué)探測(cè)器響應(yīng)時(shí)間的測(cè)試裝置，通過旋轉(zhuǎn)滑動(dòng)滑塊與透光計(jì)時(shí)板之間的夾角，可以改變光學(xué)探測(cè)器本體與光源發(fā)射光線的夾角，接著滑動(dòng)移動(dòng)光源架可以改變測(cè)試LED燈在滑動(dòng)滑塊上的位置，改變光學(xué)探測(cè)器本體與光源之間的間距，同時(shí)在轉(zhuǎn)動(dòng)和滑動(dòng)的過程中可以通過刻度尺和量角器讀出光源位置準(zhǔn)確改變的參數(shù)，從而達(dá)到精確調(diào)節(jié)測(cè)試光源的效果。 |
