電子紙模組及檢測其崩邊暗裂的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010998903.9 申請日 -
公開（公告）號 CN112230487A 公開（公告）日 2021-01-15
申請公布號 CN112230487A 申請公布日 2021-01-15
分類號 G02F1/1675;G02F1/1685;G09G3/00 分類 光學(xué);
發(fā)明人 周玉峰 申請（專利權(quán)）人 江西興泰科技股份有限公司
代理機構(gòu) 寧波甬致專利代理有限公司 代理人 江西興泰科技有限公司
地址 343099 江西省吉安市吉州區(qū)工業(yè)園內(nèi)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種電子紙模組，包括TFT模組，所述TFT模組的中部設(shè)有顯示區(qū)域，所述TFT模組上設(shè)有一圈金屬環(huán)繞線，所述金屬環(huán)繞線靠近TFT模組的邊緣布線，且所述金屬環(huán)繞線的兩端接近但保持間距。通過修改TFT模組的結(jié)構(gòu)設(shè)計，在TFT模組的崩邊規(guī)格參數(shù)范圍內(nèi)，于TFT的邊緣靠內(nèi)走一圈金屬環(huán)繞線。后續(xù)在大板上將一個個設(shè)有金屬環(huán)繞線的小片TFT切割下來后，將各TFT模組的金屬環(huán)繞線與測試電路連接，如果測得電路可以導(dǎo)通說明金屬環(huán)繞線無損傷，也即證明該片TFT模組沒有崩邊或暗裂質(zhì)量問題，反之則證明檢測產(chǎn)品不合格。