一種保密介質(zhì)完整性檢測系統(tǒng)和方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011546861.1 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN112285479B 公開(公告)日 2021-03-30
申請(qǐng)公布號(hào) CN112285479B 申請(qǐng)公布日 2021-03-30
分類號(hào) G06F21/73(2013.01)I;G06F21/78(2013.01)I;G01R31/00(2006.01)I 分類 測量;測試;
發(fā)明人 羅遠(yuǎn)哲;劉瑞景;張建武;鮑春梅;耿云曉;郭政廷;李文靜;劉志明;趙永營 申請(qǐng)(專利權(quán))人 北京中超偉業(yè)信息安全技術(shù)股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京高沃律師事務(wù)所 代理人 王愛濤
地址 102200北京市昌平區(qū)科技園區(qū)超前路甲1號(hào)10號(hào)樓302室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種保密介質(zhì)完整性檢測系統(tǒng),所述保密介質(zhì)完整性檢測系統(tǒng)包括:完整性檢測電路單元,分布在待完整性檢測的介質(zhì)的表面,內(nèi)部含有隨機(jī)濾波電路,形成特有的電路特征;接觸式識(shí)別芯片單元,用于保存介質(zhì)信息及ID標(biāo)識(shí),并在通電后廣播自身ID標(biāo)識(shí);外部讀寫單元,用于讀取所述接觸式識(shí)別芯片單元的ID標(biāo)識(shí)及介質(zhì)信息;接觸式供電電路單元;接觸式自我銷毀電路單元;第一外部電源單元,用于分別為所述接觸式識(shí)別芯片單元及所述完整性檢測電路單元供電,并接收所述完整性檢測電路單元回傳的電流信號(hào)。本發(fā)明通過特有的電路濾波特征,實(shí)現(xiàn)了對(duì)保密介質(zhì)的完整性進(jìn)行檢測,同時(shí)添加了唯一ID標(biāo)識(shí),達(dá)到保密追蹤、管理的目的。??