芯片測試板

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201920827115.6 申請日 -
公開（公告）號 CN210604871U 公開（公告）日 2020-05-22
申請公布號 CN210604871U 申請公布日 2020-05-22
分類號 G01R31/28;G01R1/04 分類 測量；測試;
發(fā)明人 夏惠 申請（專利權(quán)）人 張家港恩達通訊科技有限公司
代理機構(gòu) 北京三聚陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張韜
地址 215614 江蘇省蘇州市張家港市鳳凰鎮(zhèn)鳳凰科創(chuàng)園E棟，恩達通訊
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及半導(dǎo)體芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種芯片測試板，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中的測量效率低的缺陷，其技術(shù)要點在于包括承接板及控制模塊，所述承接板上設(shè)置有選址模塊，所述選址模塊與所述控制模塊對應(yīng)設(shè)置，所述承接板上還還設(shè)有插槽及若干引線，所述引線用于所述插槽與地線連接設(shè)置。通過控制裝置對選址裝置進行選擇，并通過選址模塊分別讀取插槽信號，使得測試過程中自動化程度高，提高了測試過程中的測試效率。