一種痕量危爆品檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110885555.9 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113640281A 公開（公告）日 2021-11-12
申請(qǐng)公布號(hào) CN113640281A 申請(qǐng)公布日 2021-11-12
分類號(hào) G01N21/78（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 張志恒;寧飛;劉湘斌;陳樂(lè);祝勝康;曹瑞;侯肖楠;王翔宇;田原 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 中電長(zhǎng)城圣非凡信息系統(tǒng)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 工業(yè)和信息化部電子專利中心 代理人 華楓
地址 102209北京市昌平區(qū)未來(lái)科學(xué)城魯疃路5號(hào)B棟一層局部及三、四層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提出了一種痕量危爆品檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法，檢測(cè)裝置包括：機(jī)架、取樣組件、試紙及檢測(cè)單元，機(jī)架具有用于放置待檢測(cè)證件的承載臺(tái)，試紙的部分卷繞于取樣組件，試紙具有多節(jié)采樣帶；檢測(cè)單元設(shè)于機(jī)架，用于對(duì)所述試紙的采樣部位進(jìn)行痕量危爆品檢測(cè)；其中，在完成一次痕量危爆品檢測(cè)后，若當(dāng)前采樣帶檢測(cè)到危爆品，或采樣帶達(dá)到預(yù)設(shè)使用次數(shù)，則在下次采樣檢測(cè)前，試紙轉(zhuǎn)動(dòng)至下一節(jié)采樣帶進(jìn)行采樣測(cè)試；若當(dāng)前采樣帶未檢測(cè)到危爆品，且采樣帶未達(dá)到預(yù)設(shè)使用次數(shù)，試紙反轉(zhuǎn)復(fù)位至當(dāng)前采樣帶，繼續(xù)采樣測(cè)試。本發(fā)明可以使試紙得到充分利用，且可以避免試紙重復(fù)利用影響檢測(cè)結(jié)果，具有良好的可靠性和準(zhǔn)確性。