三維掃描方法及掃描裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201810750584.2 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN109211139A 公開(kāi)（公告）日 2019-01-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN109211139A 申請(qǐng)公布日 2019-01-15
分類號(hào) G01B11/25;A41H1/02 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 吳懷宇 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京三體高創(chuàng)科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京卓唐知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 北京三體高創(chuàng)科技有限公司
地址 100000 北京市海淀區(qū)清河小營(yíng)(雄獅機(jī)械廠)4幢033號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)公開(kāi)了一種三維掃描方法及掃描裝置。該方法包括檢測(cè)待測(cè)對(duì)象的第一測(cè)量位置；如果所述待測(cè)對(duì)象的第一測(cè)量位置滿足第一預(yù)設(shè)測(cè)量條件，則下發(fā)測(cè)量姿態(tài)調(diào)整指令；根據(jù)所述測(cè)量姿態(tài)調(diào)整指令將所述待測(cè)對(duì)象調(diào)整為第二測(cè)量位置；根據(jù)所述第二測(cè)量位置測(cè)量并采集當(dāng)前測(cè)待測(cè)對(duì)象的點(diǎn)云數(shù)據(jù)；以及根據(jù)所述點(diǎn)云數(shù)據(jù)建立待測(cè)對(duì)象的三維掃描模型。本申請(qǐng)解決了三維掃描成本較高的技術(shù)問(wèn)題。采用本申請(qǐng)的方法精度高、成本低、數(shù)據(jù)完整。