電池極耳外觀缺陷檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210004551.X 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN114022479A 公開（公告）日 2022-02-08
申請(qǐng)公布號(hào) CN114022479A 申請(qǐng)公布日 2022-02-08
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 不公告發(fā)明人 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 高視科技（蘇州）股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 惠州市超越知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 陳文福
地址 215163江蘇省蘇州市高新區(qū)嘉陵江路198號(hào)11幢1層101室、102室、9層901室、902室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)是關(guān)于一種電池極耳外觀缺陷檢測(cè)方法。該方法包括：獲取待測(cè)極耳缺陷圖像以及模型支持集；將待測(cè)極耳缺陷圖像以及模型支持集輸入目標(biāo)雙支神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，輸出待測(cè)極耳缺陷圖像的缺陷類型；目標(biāo)雙支神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的訓(xùn)練方式為：獲取小樣本訓(xùn)練集，小樣本訓(xùn)練集包含N種極耳缺陷類型的圖像樣本，各個(gè)圖像樣本中標(biāo)注有極耳缺陷類型；在小樣本訓(xùn)練集中獲取模型支持集以及模型查詢集；將模型支持集以及模型查詢集輸入初始雙支神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行訓(xùn)練，得到目標(biāo)雙支神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)。本申請(qǐng)?zhí)峁┑姆桨福軌蚪档碗姵貥O耳缺陷檢測(cè)的難度，降低缺陷檢測(cè)數(shù)據(jù)收集耗時(shí)，降低檢測(cè)成本，提高檢測(cè)效率。