不良偏光片識別方法、電子設備和存儲介質
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111186165.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113628212B | 公開(公告)日 | 2022-03-11 |
申請公布號 | CN113628212B | 申請公布日 | 2022-03-11 |
分類號 | G06T7/00(2017.01)I;G06T7/11(2017.01)I;G06T5/00(2006.01)I;G06T5/10(2006.01)I;G06T5/20(2006.01)I;G06N3/04(2006.01)I;G06N3/08(2006.01)I | 分類 | 計算;推算;計數; |
發(fā)明人 | 姜涌;范偉華;鄒志豪;李劍波 | 申請(專利權)人 | 高視科技(蘇州)股份有限公司 |
代理機構 | 惠州市超越知識產權代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 陳文福 |
地址 | 215011江蘇省蘇州市高新區(qū)嘉陵江路198號11幢1層101室、102室、9層901室、902室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請是關于一種不良偏光片識別方法、電子設備和存儲介質。該方法包括:獲取待檢測屏幕的透射圖像和反射圖像;所述透射圖像為光線從所述待檢測屏幕透射后的待測區(qū)域成像;所述反射圖像為光線在所述待檢測屏幕表面反射后的待測區(qū)域成像;對所述透射圖像和所述反射圖像進行二值化處理,分別得到第一缺陷區(qū)域和第二缺陷區(qū)域;根據所述第一缺陷區(qū)域和所述第二缺陷區(qū)域的中心點坐標,計算所述第一缺陷區(qū)域和所述第二缺陷區(qū)域的中心距離差;根據所述中心距離差判斷所述第一缺陷區(qū)域和所述第二缺陷區(qū)域對應的缺陷類型。本申請能夠在屏幕質檢時,通過圖像識別的方式完成偏光片氣泡和保護膜氣泡的自動化檢測區(qū)分。 |
