一種絕緣柵雙極型晶體管結(jié)構及其制造方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111472626.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113990945A | 公開(公告)日 | 2022-01-28 |
申請公布號 | CN113990945A | 申請公布日 | 2022-01-28 |
分類號 | H01L29/739(2006.01)I;H01L21/331(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 徐守一;陳思凡;蔡銘進 | 申請(專利權)人 | 廈門芯達茂微電子有限公司 |
代理機構 | 廈門加減專利代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 包愛萍 |
地址 | 361000福建省廈門市火炬高新區(qū)火炬園火炬路56-58號火炬廣場北樓606、607、609室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及半導體功率器件技術領域,特別涉及一種絕緣柵雙極型晶體管結(jié)構及其制造方法,與現(xiàn)有技術相比,本發(fā)明提供的一種絕緣柵雙極型晶體管結(jié)構,通過于襯底上生長的方式依次形成集電區(qū)、截止區(qū)和漂移區(qū),并且通過深溝結(jié)構和連接層的設置實現(xiàn)集電極和集電區(qū)金屬接觸,在生長過程中可控制截止區(qū)和漂移區(qū)各自的摻雜濃度,因此本發(fā)明對于襯底的選擇范圍較廣,而對于現(xiàn)有技術中通過背側(cè)高能注入離子并鐳射退火形成截止區(qū)集電區(qū)的方式而言,襯底往往選擇摻雜濃度低的半導體材料,且為了獲得較低地Vce(sat),晶片會被研磨的很薄,進而需要通過TAIKO工藝提高研磨至很薄的晶片強度,而本發(fā)明則無需采用上述工藝中的昂貴設備,具有較低的生產(chǎn)成本。 |
