一種集成電路測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202121898454.7 申請日 -
公開（公告）號 CN216117894U 公開（公告）日 2022-03-22
申請公布號 CN216117894U 申請公布日 2022-03-22
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳德?lián)?/td> 申請（專利權(quán)）人 深圳德芯微電技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 深圳市蘭鋒盛世知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 陸婉
地址 518000廣東省深圳市寶安區(qū)石巖街道上屋社區(qū)園嶺路志泫翰工業(yè)園廠房K棟五層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供一種集成電路測試裝置，屬于集成電路技術(shù)領(lǐng)域，該集成電路測試裝置包括工作臺，殼體，其固定于工作臺的頂部中心處；集成電路，其設置于殼體的頂部；夾持機構(gòu)，其設有兩組，兩組夾持機構(gòu)分別從集成電路的兩側(cè)以將集成電路夾持住，其中：每組夾持機構(gòu)均包括固定塊、絲桿、螺母、夾持板、限位組件和兩個連接桿，固定塊固定于工作臺的頂部邊緣處，絲桿的一端與固定塊轉(zhuǎn)動連接，且絲桿的另一端活動貫穿殼體的一側(cè)內(nèi)壁并向內(nèi)延伸，螺母的螺紋配合于絲桿的圓周表面，限位組件與螺母連接以實現(xiàn)其作直線運動；本裝置使得集成電路在進行測試不易晃動，不僅使得測試準確度高，而且效率高。