一種集成電路的測試板
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202121913013.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN216411476U | 公開(公告)日 | 2022-04-29 |
申請公布號 | CN216411476U | 申請公布日 | 2022-04-29 |
分類號 | G01R31/28(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 陳德?lián)?/td> | 申請(專利權(quán))人 | 深圳德芯微電技術(shù)有限公司 |
代理機構(gòu) | 深圳市蘭鋒盛世知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 陸婉 |
地址 | 518000廣東省深圳市寶安區(qū)石巖街道上屋社區(qū)園嶺路志泫翰工業(yè)園廠房K棟五層 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型提供一種集成電路的測試板,屬于測試板技術(shù)領(lǐng)域,該集成電路的測試板包括儲存箱,儲存箱的一端開始有多個抽屜槽,多個抽屜槽內(nèi)均滑動連接有放置板,儲存箱的一側(cè)設(shè)有電機,集成電路測試板主體,集成電路測試板主體設(shè)于其中一個放置板的上端,在需要將集成電路測試板主體從儲存箱內(nèi)拿出時,可以通過啟動電機,這時其便會將動力傳遞至推送機構(gòu),這時推送機構(gòu)便會將多個放置板向外推送,這時人們便可以將放置板上端的集成電路測試板主體拿取,無需再由人手動摸索了,使得集成電路測試板主體在被拿取時,其上端的電路不會被破壞,進(jìn)而提高了集成電路測試板主體的使用效率和使用壽命。 |
