目標(biāo)檢測(cè)方法及裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)、終端

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011339863.3 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN112784675A 公開（公告）日 2021-05-11
申請(qǐng)公布號(hào) CN112784675A 申請(qǐng)公布日 2021-05-11
分類號(hào) G06K9/00;G06K9/62 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 單增光;郭峰;葉云;黃冠;都大龍 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 上海芯翌智能科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 張振軍
地址 200434 上海市虹口區(qū)水電路1388號(hào)10層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種目標(biāo)檢測(cè)方法及裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)、終端，所述方法包括：獲取樣本圖像，所述樣本圖像包括目標(biāo)樣本圖像，所述目標(biāo)樣本圖像是指包含預(yù)設(shè)目標(biāo)的樣本圖像；在所述目標(biāo)樣本圖像中，對(duì)所述目標(biāo)樣本圖像包含的預(yù)設(shè)目標(biāo)進(jìn)行復(fù)制，以得到第一待訓(xùn)練圖像；采用訓(xùn)練數(shù)據(jù)對(duì)檢測(cè)模型進(jìn)行訓(xùn)練，以得到訓(xùn)練后的檢測(cè)模型，所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)包括所述第一待訓(xùn)練圖像；采用所述訓(xùn)練后的檢測(cè)模型檢測(cè)待檢測(cè)圖像，以確定其中是否包含所述預(yù)設(shè)目標(biāo)。通過本發(fā)明的技術(shù)方案，能夠高效準(zhǔn)確地檢測(cè)出圖像中的預(yù)設(shè)目標(biāo)。