應(yīng)用于高溫?zé)g試驗(yàn)的設(shè)備及高溫試驗(yàn)的燒蝕量檢測(cè)方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110427053.1 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN113109499A | 公開(公告)日 | 2021-07-13 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113109499A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-07-13 |
分類號(hào) | G01N31/12(2006.01)I;G01N21/84(2006.01)I;G01B11/02(2006.01)I;G06T7/00(2017.01)I;G06T7/13(2017.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 黃浦;屈哲;張治 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 杭州柔谷科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 上海波拓知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 林麗璀 |
地址 | 310000浙江省杭州市錢塘新區(qū)海拓商務(wù)大廈6幢506室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請(qǐng)涉及應(yīng)用于高溫?zé)g試驗(yàn)的設(shè)備及高溫試驗(yàn)的燒蝕量檢測(cè)方法,樣品或樣品固定裝置設(shè)有標(biāo)記點(diǎn),測(cè)距裝置用于測(cè)量樣品的前端與標(biāo)記點(diǎn)之間的距離,圖像采集裝置可采集到同時(shí)包含樣品與標(biāo)記點(diǎn)的圖像。根據(jù)所述距離及試驗(yàn)前采集的圖像的識(shí)別數(shù)據(jù),確定樣品的前端與指定參考點(diǎn)之間的初始距離及距離像素比,距離像素比表征單位像素距離對(duì)應(yīng)的實(shí)際距離;根據(jù)試驗(yàn)時(shí)采集的圖像的識(shí)別數(shù)據(jù),計(jì)算樣品的前端與標(biāo)記點(diǎn)之間的實(shí)時(shí)像素距離;根據(jù)距離像素比、實(shí)時(shí)像素距離計(jì)算樣品的前端與指定參考點(diǎn)之間實(shí)時(shí)距離,進(jìn)而可以得出樣品的燒蝕量。由于樣品固定裝置、標(biāo)記點(diǎn)、樣品三者在高溫試驗(yàn)過程中振動(dòng)頻率一致,消除了振動(dòng)對(duì)燒蝕量檢測(cè)的影響,檢測(cè)誤差小。 |
