指紋識別模塊異常判定方法、裝置、存儲介質及電子設備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810361945.4 申請日 -
公開（公告）號 CN110390230B 公開（公告）日 2022-03-18
申請公布號 CN110390230B 申請公布日 2022-03-18
分類號 G06V10/96（2022.01）I;G06V40/12（2022.01）I;G06V10/74（2022.01）I;G06K9/62（2022.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 雷磊;李振剛;黃臣;楊云 申請（專利權）人 比亞迪半導體股份有限公司
代理機構 深圳眾鼎專利商標代理事務所（普通合伙） 代理人 詹建新
地址 518119 廣東省深圳市大鵬新區(qū)葵涌街道延安路1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開涉及一種指紋識別模塊異常判定方法、裝置、存儲介質及電子設備。該方法包括：在采集到用戶施加在指紋識別模塊上的第一指紋圖像時，確定所述第一指紋圖像與第二指紋圖像的匹配特征點對，其中，所述第二指紋圖像為在所述第一指紋圖像之前最近一次采集到的指紋圖像；根據(jù)所述匹配特征點對，判定所述指紋識別模塊是否存在異常。由此，可以快速、準確地判定出指紋識別模塊是否異常，例如，指紋識別模塊上是否覆蓋有帶有導電圖案的膠帶，從而可以有效避免指紋識別模塊被破解，提升了指紋識別模塊的可靠性和安全性，進而保障了用戶的隱私安全和財產(chǎn)安全。