一種溝槽型半導(dǎo)體器件及其制造方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010870367.4 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN114122122A | 公開(kāi)(公告)日 | 2022-03-01 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN114122122A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-03-01 |
分類(lèi)號(hào) | H01L29/423(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I | 分類(lèi) | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 楊濤濤;吳海平 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 比亞迪半導(dǎo)體股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 深圳眾鼎專(zhuān)利商標(biāo)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 黃章輝 |
地址 | 518119廣東省深圳市大鵬新區(qū)葵涌街道延安路1號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明屬于電氣元件領(lǐng)域,特別是涉及一種溝槽型半導(dǎo)體器件及其制造方法。溝槽型半導(dǎo)體器件包括半導(dǎo)體基板、漏電極區(qū)、柵電極區(qū)、源電極區(qū)和絕緣柵介質(zhì)層;所述半導(dǎo)體基板開(kāi)設(shè)有溝槽,所述柵電極區(qū)位于溝槽中,所述絕緣柵介質(zhì)層位于所述柵電極區(qū)與所述半導(dǎo)體基板之間;所述溝槽的一側(cè)形成有柵氧保護(hù)區(qū)和第一源極區(qū),所述第一源極區(qū)由溝槽的一側(cè)的外壁延伸至所述溝槽的底部,所述柵氧保護(hù)區(qū)延伸至溝槽的底部,所述柵氧保護(hù)區(qū)與溝槽底部接觸位置形成連通第一源極區(qū)與半導(dǎo)體基板的第一溝道,柵氧保護(hù)區(qū)與溝槽底部接觸的位置形成所述第一溝道,增加了半導(dǎo)體器件的溝道密度,降低半導(dǎo)體器件的導(dǎo)通內(nèi)阻,提高器件性能。 |
