一種金屬探測設(shè)備的校正方法和金屬探測設(shè)備
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202210346260.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114706142A | 公開(公告)日 | 2022-07-05 |
申請公布號 | CN114706142A | 申請公布日 | 2022-07-05 |
分類號 | G01V13/00(2006.01)I;G01V3/11(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 唐曉莉;趙瑞剛;馮雄;汪興華;劉鵬;楊金平 | 申請(專利權(quán))人 | 西安天和防務(wù)技術(shù)股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 710000陜西省西安市高新區(qū)西部大道158號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請?zhí)峁┝艘环N金屬探測設(shè)備的校正方法和金屬探測設(shè)備,該校正方法包括:獲取當(dāng)前校正周期中校正采集時(shí)間段內(nèi)的感應(yīng)值;根據(jù)所述感應(yīng)值判斷所述金屬探測設(shè)備在所述校正采集時(shí)間段內(nèi)是否探測到金屬;若否,則根據(jù)所述感應(yīng)值對相鄰下一校正周期內(nèi)的探測基準(zhǔn)值進(jìn)行更新。本申請?zhí)峁┑男U椒軌驕p小由于金屬探測設(shè)備自身電路的不穩(wěn)定性而產(chǎn)生的誤差,提升金屬探測設(shè)備的檢出率、降低誤報(bào)率。 |
