開關檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811496371.8 申請日 -
公開（公告）號 CN109633426A 公開（公告）日 2021-06-08
申請公布號 CN109633426A 申請公布日 2021-06-08
分類號 G01R31/327 分類 測量；測試;
發(fā)明人 何志強;曲世超;井超 申請（專利權）人 浙江特康電子科技有限公司
代理機構 杭州華鼎知識產權代理事務所（普通合伙） 代理人 項軍
地址 314009 浙江省嘉興市南湖區(qū)余新鎮(zhèn)經一路與緯三路交叉口東北側1幢-3幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了開關檢測方法，包括令控制芯片MCU輸出導通MOS管Q1的電壓值，獲取連接在控制芯片MCU上的開關檢測電路中流經MOS管Q1的電流值；當接收到表明電流值小于預設閾值的第一控制指令時，令控制芯片MCU輸出關閉MOS管Q1的電壓值，在MOS管Q1斷開后獲取開關檢測電路中AD采樣端處的采樣電壓值；如果采樣電壓值大于標準電壓值，則判定開關SW處于閉合狀態(tài)；如果采樣電壓值為零，則判定SW已斷開。依據外部開關SW在不同狀態(tài)下檢測MOS管Q1的導通、關斷狀態(tài)下的采樣電壓值，參考SW在不同狀態(tài)下流經Q1的電流發(fā)生變化從而導致采樣電壓值變化的方式完成對開關SW狀態(tài)的判斷，相對于現(xiàn)有技術，無需采用昂貴的電器元件即可以完成開關狀態(tài)檢測，降低了廠家成本。