開(kāi)關(guān)檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811496371.8 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN109633426A 公開(kāi)（公告）日 2021-06-08
申請(qǐng)公布號(hào) CN109633426A 申請(qǐng)公布日 2021-06-08
分類(lèi)號(hào) G01R31/327 分類(lèi) 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 何志強(qiáng);曲世超;井超 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 浙江特康電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州華鼎知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 項(xiàng)軍
地址 314009 浙江省嘉興市南湖區(qū)余新鎮(zhèn)經(jīng)一路與緯三路交叉口東北側(cè)1幢-3幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了開(kāi)關(guān)檢測(cè)方法，包括令控制芯片MCU輸出導(dǎo)通MOS管Q1的電壓值，獲取連接在控制芯片MCU上的開(kāi)關(guān)檢測(cè)電路中流經(jīng)MOS管Q1的電流值；當(dāng)接收到表明電流值小于預(yù)設(shè)閾值的第一控制指令時(shí)，令控制芯片MCU輸出關(guān)閉MOS管Q1的電壓值，在MOS管Q1斷開(kāi)后獲取開(kāi)關(guān)檢測(cè)電路中AD采樣端處的采樣電壓值；如果采樣電壓值大于標(biāo)準(zhǔn)電壓值，則判定開(kāi)關(guān)SW處于閉合狀態(tài)；如果采樣電壓值為零，則判定SW已斷開(kāi)。依據(jù)外部開(kāi)關(guān)SW在不同狀態(tài)下檢測(cè)MOS管Q1的導(dǎo)通、關(guān)斷狀態(tài)下的采樣電壓值，參考SW在不同狀態(tài)下流經(jīng)Q1的電流發(fā)生變化從而導(dǎo)致采樣電壓值變化的方式完成對(duì)開(kāi)關(guān)SW狀態(tài)的判斷，相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)，無(wú)需采用昂貴的電器元件即可以完成開(kāi)關(guān)狀態(tài)檢測(cè)，降低了廠家成本。