開關(guān)檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811496371.8 申請日 -
公開（公告）號 CN109633426B 公開（公告）日 2021-06-08
申請公布號 CN109633426B 申請公布日 2021-06-08
分類號 G01R31/327 分類 測量；測試;
發(fā)明人 何志強;曲世超;井超 申請（專利權(quán)）人 浙江特康電子科技有限公司
代理機構(gòu) 杭州華鼎知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 項軍
地址 314009 浙江省嘉興市南湖區(qū)余新鎮(zhèn)經(jīng)一路與緯三路交叉口東北側(cè)1幢-3幢
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了開關(guān)檢測方法，包括令控制芯片MCU輸出導(dǎo)通MOS管Q1的電壓值，獲取連接在控制芯片MCU上的開關(guān)檢測電路中流經(jīng)MOS管Q1的電流值；當(dāng)接收到表明電流值小于預(yù)設(shè)閾值的第一控制指令時，令控制芯片MCU輸出關(guān)閉MOS管Q1的電壓值，在MOS管Q1斷開后獲取開關(guān)檢測電路中AD采樣端處的采樣電壓值；如果采樣電壓值大于標準電壓值，則判定開關(guān)SW處于閉合狀態(tài)；如果采樣電壓值為零，則判定SW已斷開。依據(jù)外部開關(guān)SW在不同狀態(tài)下檢測MOS管Q1的導(dǎo)通、關(guān)斷狀態(tài)下的采樣電壓值，參考SW在不同狀態(tài)下流經(jīng)Q1的電流發(fā)生變化從而導(dǎo)致采樣電壓值變化的方式完成對開關(guān)SW狀態(tài)的判斷，相對于現(xiàn)有技術(shù)，無需采用昂貴的電器元件即可以完成開關(guān)狀態(tài)檢測，降低了廠家成本。