結構光三維測量方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201710581178.3 申請日 -
公開（公告）號 CN107421467B 公開（公告）日 2019-09-20
申請公布號 CN107421467B 申請公布日 2019-09-20
分類號 G01B11/25（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 胡學磊; 李鵬杰; 鄭眾喜 申請（專利權）人 蘇州優(yōu)納科技有限公司
代理機構 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 代理人 吳黎
地址 215163 江蘇省蘇州市新區(qū)科技城科靈路78號2號軟件園11號樓2層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及光學三維傳感和測量技術領域，公開的一種結構光三維測量方法包括以下步驟：將正弦周期條紋的周期序號按照編碼方式F編碼為m位二進制數(shù)；控制投影單元投影m×n幅具有編碼后的周期序號的正弦周期條紋結構光至被測物體，每組相移中的相同條紋周期對應同一個編碼位值，編碼位值為0或1，分別對應n步相移的條紋相位的單調遞增或單調遞減；計算每個投影成像點的m個截斷相位值；獲取每個投影成像點的m個編碼位值，校正反折的截斷相位值；計算校正后的m個截斷相位值的平均值；根據(jù)編碼方式F的反運算F?1獲得正弦周期條紋的周期序號；計算得到完整相位。本發(fā)明簡化了結構光的投影流程，提高了測量精度，并且降低了計算時間。