商標(biāo)進度

商標(biāo)申請

初審公告

已注冊

2

終止

商標(biāo)詳情

商標(biāo)
K
商標(biāo)名稱 KIS 商標(biāo)狀態(tài) 商標(biāo)已注冊
申請日期 2012-11-22 申請/注冊號 11782645
國際分類 09類-科學(xué)儀器 是否共有商標(biāo)
申請人名稱(中文) 蘇州優(yōu)納科技有限公司 申請人名稱(英文) -
申請人地址(中文) 江蘇省蘇州市蘇州高新區(qū)泰山路2號27號廠房西 申請人地址(英文) -
商標(biāo)類型 變更商標(biāo)申請人/注冊人名義/地址---核準(zhǔn)證明打印發(fā)送 商標(biāo)形式 -
初審公告期號 1394 初審公告日期 2014-02-06
注冊公告期號 11782645 注冊公告日期 2014-05-07
優(yōu)先權(quán)日期 - 代理/辦理機構(gòu) 北京銘碩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司
國際注冊日 - 后期指定日期 -
專用權(quán)期限 2014-05-07-2024-05-06
商標(biāo)公告 -
商品/服務(wù)
半導(dǎo)體檢測設(shè)備(0910)
光學(xué)全自動印刷電路板檢測設(shè)備(0910)
晶圓缺陷檢測設(shè)備(光學(xué)檢測設(shè)備)(0910)
集成電路板自動光學(xué)檢測設(shè)備(0910)
印刷電路板檢測設(shè)備(0910)
平板電子產(chǎn)品自動光學(xué)檢測設(shè)備(0910)
半導(dǎo)體檢測設(shè)備()
光學(xué)全自動印刷電路板檢測設(shè)備()
晶圓缺陷檢測設(shè)備(光學(xué)檢測設(shè)備)()
集成電路板自動光學(xué)檢測設(shè)備()
印刷電路板檢測設(shè)備()
平板電子產(chǎn)品自動光學(xué)檢測設(shè)備()
商標(biāo)流程
2012-11-22

商標(biāo)注冊申請---申請收文

2012-12-04

商標(biāo)注冊申請---打印受理通知

2013-10-22

商標(biāo)注冊申請---打印駁回通知

2014-02-17

商標(biāo)注冊申請---等待注冊證發(fā)文

2014-02-17

商標(biāo)注冊申請---注冊證發(fā)文

2014-09-04

商標(biāo)注冊申請---打印注冊證

2015-11-13

商標(biāo)轉(zhuǎn)讓---申請收文

2016-07-18

商標(biāo)轉(zhuǎn)讓---核準(zhǔn)證明打印發(fā)送

2020-03-12

變更商標(biāo)申請人/注冊人名義/地址---申請收文

2020-04-17

變更商標(biāo)申請人/注冊人名義/地址---核準(zhǔn)證明打印發(fā)送