一種晶圓級(jí)封裝紅外探測(cè)器

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201821708520.8 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN208706650U 公開(kāi)(公告)日 2019-04-05
申請(qǐng)公布號(hào) CN208706650U 申請(qǐng)公布日 2019-04-05
分類號(hào) H01L27/144(2006.01)I; H01L31/02(2006.01)I; H01L31/0203(2014.01)I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 馬清杰; 許正一; 陳敏; 吳多武 申請(qǐng)(專利權(quán))人 南京方旭智芯微電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京超凡志成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 南京方旭智芯微電子科技有限公司
地址 210000 江蘇省南京市浦口區(qū)南京海峽兩岸科技工業(yè)園臺(tái)中路99-263號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型涉及一種晶圓級(jí)封裝紅外探測(cè)器,屬于半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域。該紅外探測(cè)器包括:一蓋子晶圓,在所述蓋子晶圓的背面上劃分有開(kāi)窗區(qū)域、氣體吸附區(qū)域、PAD區(qū)域,以及圍繞所述氣體吸附區(qū)域、所述開(kāi)窗區(qū)域和所述PAD區(qū)域的鍵合區(qū)域;所述氣體吸附區(qū)域開(kāi)設(shè)有用于涂覆氣體吸附膜層的第一凹槽,所述鍵合區(qū)域設(shè)置有鍵合層,所述開(kāi)窗區(qū)域涂覆有紅外增透抗反射膜,所述PAD區(qū)域設(shè)有從背面向正面貫穿的通孔,所述通孔內(nèi)填充有導(dǎo)電層,在所述導(dǎo)電層的兩端面上設(shè)有PAD焊點(diǎn)。本申請(qǐng)實(shí)施例中,通過(guò)TSV通孔的方式將PAD從正面引出,避免了采用劃片切割的方法將蓋子晶圓兩側(cè)的PAD區(qū)域打開(kāi)而導(dǎo)致PAD損壞的情況發(fā)生,提高了封裝良品率。