一種晶圓級封裝紅外探測器及其制作方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201811228153.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN109273461A | 公開(公告)日 | 2019-01-25 |
申請公布號 | CN109273461A | 申請公布日 | 2019-01-25 |
分類號 | H01L27/144;H01L31/02;H01L31/0203 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 馬清杰;許正一;陳敏;吳多武 | 申請(專利權)人 | 南京方旭智芯微電子科技有限公司 |
代理機構 | 北京超凡志成知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) | 代理人 | 南京方旭智芯微電子科技有限公司 |
地址 | 210000 江蘇省南京市浦口區(qū)南京海峽兩岸科技工業(yè)園臺中路99-263號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種晶圓級封裝紅外探測器及其制作方法。該方法包括:在蓋子晶圓的PAD區(qū)域形成導電層,并在導電層的一端面焊接PAD焊點;在蓋子晶圓的鍵合區(qū)域形成鍵合層;對除鍵合區(qū)域和PAD區(qū)域外且與鍵合區(qū)域位于同一表面的蓋子晶圓進行減薄處理;在蓋子晶圓的開窗區(qū)域涂覆紅外增透抗反射膜,在蓋子晶圓的氣體吸附區(qū)域形成第一凹槽,并在第一凹槽的底壁和側壁均涂覆氣體吸附膜層;將基板晶圓與蓋子晶圓進行鍵合封裝,形成晶圓級封裝紅外探測器。采用一種新的封裝工藝工序,通過將PAD從正面引出,避免了采用劃片切割的方法將蓋子晶圓兩側的PAD區(qū)域打開而導致PAD損壞的情況發(fā)生,提高了封裝良品率。 |
