多光譜線溫真溫測量裝置和方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201710233057.X 申請日 -
公開（公告）號 CN106949974B 公開（公告）日 2019-04-05
申請公布號 CN106949974B 申請公布日 2019-04-05
分類號 G01J5/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 邢鍵; 馬召; 尹馨; 彭博 申請（專利權(quán)）人 廣州標天下信息科技有限公司
代理機構(gòu) 哈爾濱市偉晨專利代理事務所（普通合伙） 代理人 東北林業(yè)大學;棗莊智博智能科技有限公司;廣州標天下信息科技有限公司
地址 150040 黑龍江省哈爾濱市香坊區(qū)和興路26號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種多光譜線溫真溫測量裝置和方法。該裝置包括狹縫、主物鏡、45°半透半反鏡、準直物鏡、組合分光棱鏡、暗箱物鏡、反射鏡、目鏡以及多個S4111?16Q探測器陣列。光源發(fā)出的光透過狹縫入射至主物鏡，經(jīng)過45°半透半反鏡后分為兩部分，一部分反射至目鏡；另一部分透射至準直物鏡，經(jīng)過準直物鏡后成為平行光束；該平行光束經(jīng)組合分光棱鏡后按波長分為不同波長的多個單波長平行光束；經(jīng)暗箱物鏡聚焦后，再經(jīng)反射鏡反射后分別由多個S4111?16Q探測器陣列接收，每個S4111?16Q探測器陣列為16單元光電探測器、且對應分光后的其中一個波長。本發(fā)明的上述技術(shù)能夠獲得一條線上各點的光譜強度值，適用于連續(xù)光譜輻射目標的真溫及發(fā)射率的測量。