一種探測器評測裝置及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210110883.6 申請日 -
公開（公告）號 CN114488272A 公開（公告）日 2022-05-13
申請公布號 CN114488272A 申請公布日 2022-05-13
分類號 G01T7/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 尹磊;劉海峰;李建;張保強;席守智;湯三奇 申請（專利權(quán)）人 陜西迪泰克新材料有限公司
代理機構(gòu) 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 -
地址 712000陜西省西安市西咸新區(qū)秦漢新城周陵新興產(chǎn)業(yè)園區(qū)天工一路東段8號-1
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請?zhí)峁┮环N探測器評測裝置及方法，涉及輻射探測器評測技術(shù)領(lǐng)域，包括：具有內(nèi)腔的屏蔽殼體以及位于內(nèi)腔的基臺和放射源，在基臺上設(shè)置有用于放置待測探測器的評測工位，放射源與評測工位對應(yīng)，待測探測器與基臺的焊盤電連接，在屏蔽殼體外部設(shè)置有分別與焊盤電連接的靜電計和能譜采集器，且靜電計與能譜采集器并聯(lián)，靜電計用于采集待測探測器的漏電參數(shù)，能譜采集器用于采集待測探測器的能譜信號。因此，本申請可以通過對待測探測器的漏電、輻射探測準確度、輻射探測靈敏度等多個指標進行評測，實現(xiàn)待測探測器的多維度評測，有效提高待測探測器評測的全面性和準確度。