金屬多晶體晶粒尺寸無(wú)損快速檢測(cè)的方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN03136604.X 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN1455248A 公開(kāi)（公告）日 2003-11-12
申請(qǐng)公布號(hào) CN1455248A 申請(qǐng)公布日 2003-11-12
分類號(hào) G01N23/207;G01B15/00 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 毛衛(wèi)民;陳冷;余永寧 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京科大分析檢驗(yàn)中心有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京科大華誼專利代理事務(wù)所 代理人 北京科技大學(xué)
地址 100083北京市海淀區(qū)學(xué)院路30號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種金屬多晶體晶粒尺寸無(wú)損快速檢測(cè)的方法，屬于X射線檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明是利用二維X射線探測(cè)系統(tǒng)記錄相關(guān)多晶體晶面指數(shù)為不同{hkl}的各種衍射環(huán)，對(duì)衍射斑強(qiáng)度和強(qiáng)度的平均值進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，計(jì)算出金屬多晶體內(nèi)不同晶粒尺寸的衍射強(qiáng)度級(jí)別與對(duì)應(yīng)的衍射峰數(shù)目的分布關(guān)系，衍射斑強(qiáng)度的統(tǒng)計(jì)值I對(duì)應(yīng)著晶粒尺寸的統(tǒng)計(jì)值G，根據(jù)G＝a+k·I式的線性關(guān)系和具體材料回歸計(jì)算出的a和k常數(shù)，計(jì)算待測(cè)金屬多晶體的晶粒尺寸分布和平均晶粒尺寸。本方法解決了傳統(tǒng)晶粒尺寸檢測(cè)方法有損、費(fèi)時(shí)、離線的問(wèn)題，不僅可以實(shí)現(xiàn)無(wú)損、快速檢測(cè)，還可以轉(zhuǎn)化成工業(yè)生產(chǎn)所需的晶粒尺寸在線檢測(cè)新技術(shù)。