一種磁瓦表面缺陷檢查系統(tǒng)的磁瓦凸面的缺陷判定方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111482708.1 申請日 -
公開（公告）號 CN114166742A 公開（公告）日 2022-03-11
申請公布號 CN114166742A 申請公布日 2022-03-11
分類號 G01N19/08（2006.01）I;G01N5/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 唐睿;何進(jìn);陳益民 申請（專利權(quán)）人 安徽萬磁電子股份有限公司
代理機構(gòu) 合肥市澤信專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 方榮肖
地址 231524安徽省合肥市廬江縣石頭鎮(zhèn)工業(yè)園區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種磁瓦表面缺陷檢查系統(tǒng)的磁瓦凸面的缺陷判定方法，系統(tǒng)包括殼體、夾緊裝置、傳輸裝置一、凸面檢測裝置定位裝置以及控制器。夾緊裝置包括固定擋板、移動擋板、定位組件、測距傳感器一以及驅(qū)動組件，傳輸裝置一包括電磁鐵一、伸縮件一以及傳輸組件一，凸面檢測裝置包括檢測座一、若干個觸壓開關(guān)一以及若干個探針一。定位裝置包括測距傳感器二。本發(fā)明通過夾緊裝置對磁瓦進(jìn)行初步的夾緊，通過傳輸裝置一將磁瓦從夾緊裝置上取走并進(jìn)一步傳輸至凸面檢測裝置上進(jìn)行檢測，利用探針一形成的檢測曲面一感應(yīng)磁瓦凸面，當(dāng)磁瓦凸面上具有凹陷或者凸起時，探針抵壓觸壓開關(guān)一的時間是不同的，從而判斷出該區(qū)域存在缺陷。