一種磁瓦表面缺陷檢查系統(tǒng)及其檢查方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910932189.0 申請日 -
公開（公告）號 CN110514587B 公開（公告）日 2021-12-21
申請公布號 CN110514587B 申請公布日 2021-12-21
分類號 G01N19/08（2006.01）I;G01N5/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 唐睿;何進;陳益民 申請（專利權）人 安徽萬磁電子股份有限公司
代理機構 合肥市澤信專利代理事務所（普通合伙） 代理人 方榮肖
地址 231524安徽省合肥市廬江縣石頭鎮(zhèn)工業(yè)園區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種磁瓦表面缺陷檢查系統(tǒng)及其檢查方法，系統(tǒng)包括殼體、夾緊裝置、傳輸裝置一、凸面檢測裝置、傳輸裝置二、凹面檢測裝置、定位裝置以及控制器。夾緊裝置包括固定擋板、移動擋板、定位組件、測距傳感器一以及驅動組件，傳輸裝置一包括電磁鐵一、伸縮件一以及傳輸組件一，凸面檢測裝置包括檢測座一、若干個觸壓開關一以及若干個探針一。傳輸裝置二包括電磁鐵二、伸縮件二以及傳輸組件二，凹面檢測裝置包括檢測座二、若干個觸壓開關二以及若干個探針二，定位裝置包括測距傳感器二和測距傳感器三。本發(fā)明實現(xiàn)了對磁瓦的凹凸面的缺陷檢查，提高缺陷的檢查效果，可以降低勞動強度，保護工人的眼睛，而且提高缺陷檢查的效率和誤檢率。