一種磁瓦表面缺陷檢查系統(tǒng)的磁瓦凹面的缺陷判定方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111483180.X 申請日 -
公開（公告）號 CN114166743A 公開（公告）日 2022-03-11
申請公布號 CN114166743A 申請公布日 2022-03-11
分類號 G01N19/08（2006.01）I;G01N5/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 唐睿;何進;陳益民 申請（專利權(quán)）人 安徽萬磁電子股份有限公司
代理機構(gòu) 合肥市澤信專利代理事務所（普通合伙） 代理人 方榮肖
地址 231524安徽省合肥市廬江縣石頭鎮(zhèn)工業(yè)園區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種磁瓦表面缺陷檢查系統(tǒng)的磁瓦凹面的缺陷判定方法，系統(tǒng)包括殼體、夾緊裝置、傳輸裝置二、凹面檢測裝置、定位裝置以及控制器。夾緊裝置包括固定擋板、移動擋板、定位組件、測距傳感器一以及驅(qū)動組件。傳輸裝置二包括電磁鐵二、伸縮件二以及傳輸組件二，凹面檢測裝置包括檢測座二、若干個觸壓開關(guān)二以及若干個探針二，定位裝置包括測距傳感器三。本發(fā)明通過夾緊裝置對磁瓦進行初步的夾緊，通過傳輸裝置二將磁瓦從夾緊裝置上取走并進一步傳輸至凹面檢測裝置上進行檢測，利用探針二形成的檢測曲面一感應磁瓦凹面，當磁瓦凹面上具有凹陷或者凸起時，探針抵壓觸壓開關(guān)二的時間是不同的，從而判斷出該區(qū)域存在缺陷。