一種試卷識(shí)別方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201310276562.4 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN103400124B 公開（公告）日 2017-09-15
申請公布號(hào) CN103400124B 申請公布日 2017-09-15
分類號(hào) G06K9/20(2006.01)I;G06K9/54(2006.01)I;G06T3/60(2006.01)I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 姚磊;萬科銳;汪順利 申請（專利權(quán)）人 北京鴻合智能系統(tǒng)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京風(fēng)雅頌專利代理有限公司 代理人 北京鴻合智能系統(tǒng)有限公司
地址 100086 北京市海淀區(qū)上地信息路11號(hào)西四層405、407室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種試卷識(shí)別方法，包括：獲取24位位圖格式的彩色試卷圖像；將所述24位位圖格式的彩色試卷圖像壓縮為8位位圖格式；對(duì)所述8位位圖格式彩色試卷圖像進(jìn)行二值化處理；得到黑白試卷圖像；導(dǎo)入試卷模板；將所述黑白試卷圖像與試卷模板進(jìn)行匹配；提取所述黑白試卷圖像中包含的試卷信息；本發(fā)明還公開了一種試卷識(shí)別裝置，包括：圖像獲取模塊，圖像處理模塊，模板導(dǎo)入模塊，圖像匹配模塊以及圖像信息提取模塊。本發(fā)明提供的試卷識(shí)別方法及裝置，能夠準(zhǔn)確有效地對(duì)試卷進(jìn)行識(shí)別并得出正確的試卷分?jǐn)?shù)。