一種微弱痕跡處理方法、裝置、檢測(cè)方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010761626.X 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN111880181B 公開（公告）日 2021-11-30
申請(qǐng)公布號(hào) CN111880181B 申請(qǐng)公布日 2021-11-30
分類號(hào) G01S13/90（2006.01）I;G01S7/40（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 胡利平;李勝;周峰;吳皓;王超 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京環(huán)境特性研究所
代理機(jī)構(gòu) 北京格允知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 周嬌嬌
地址 100854北京市海淀區(qū)永定路50號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種微弱痕跡處理方法、裝置、檢測(cè)方法及裝置，所述處理方法包括：對(duì)制作的地物背景下的痕跡樣本進(jìn)行測(cè)試，獲取痕跡樣本在不同擦地角下的全方位掃頻雷達(dá)散射截面RCS測(cè)試數(shù)據(jù)；對(duì)所述RCS測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行二維高分辨逆合成孔徑雷達(dá)ISAR成像，獲取不同擦地角下的全方位ISAR圖像數(shù)據(jù)；對(duì)所述痕跡樣本在預(yù)定擦地角下的多個(gè)方位角的ISAR圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行融合，得到微弱痕跡的多角度融合增強(qiáng)結(jié)果圖像；對(duì)比不同擦地角下全方位ISAR圖像數(shù)據(jù)的融合結(jié)果圖像；確定所述地物背景下對(duì)微弱痕跡進(jìn)行目標(biāo)增強(qiáng)優(yōu)選的擦地角角度數(shù)據(jù)。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)微弱痕跡目標(biāo)的發(fā)現(xiàn)、探測(cè)和識(shí)別。