原子磁力計及其堿金屬原子氣室壓強的原位檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010483073.6 申請日 -
公開（公告）號 CN111596237B 公開（公告）日 2020-08-28
申請公布號 CN111596237B 申請公布日 2020-08-28
分類號 G01R33/032(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 蔡賓 申請（專利權(quán)）人 北京未磁科技有限公司
代理機構(gòu) 北京中索知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 北京未磁科技有限公司
地址 100744北京市延慶區(qū)中關(guān)村延慶園風谷四路8號院27號樓8室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了原子磁力計及其堿金屬原子氣室壓強的原位檢測方法，其中原子磁力計包括光源、起偏器、四分之一波片、堿金屬原子氣室、無磁電加熱膜、光學(xué)微腔、微納光纖、分光棱鏡、光譜儀和信號處理電路。光學(xué)微腔與微納光纖相接觸并且集成在所述堿金屬原子氣室內(nèi)。通過測量光學(xué)微腔的諧振波長及波長變化量，計算出堿金屬原子氣室中的壓強。該方法可以在堿金屬原子氣室的輸出信號中同時提取原子磁力計的信號及堿金屬原子氣室的壓強信號。能夠在原子磁力計正常工作的同時進行堿金屬原子氣室壓強的檢測，并且具有較高的測量精度。同時，光學(xué)微腔不引入任何磁場噪聲。該方法也可以用在其他利用堿金屬原子氣室的量子精密測量系統(tǒng)中。??