基于納米金剛石探針順磁共振的分子信息檢測方法及系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202210603124.3 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114689637A | 公開(公告)日 | 2022-07-01 |
申請公布號 | CN114689637A | 申請公布日 | 2022-07-01 |
分類號 | G01N24/10(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 秦卓楊;王哲成;趙鵬舉;孔飛;石發(fā)展;杜江峰 | 申請(專利權(quán))人 | 中國科學(xué)技術(shù)大學(xué) |
代理機(jī)構(gòu) | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | - |
地址 | 230026安徽省合肥市包河區(qū)金寨路96號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于納米金剛石探針順磁共振的分子信息檢測方法及系統(tǒng),方法包括:將待測樣品固定于精密位移裝置,待測樣品包括含有待測分子和納米探針的載玻片,納米探針包括氮空位色心的納米金剛石探針;利用共聚焦顯微裝置激發(fā)納米探針的電子狀態(tài);利用精密位移裝置上的輻射組件將微波系統(tǒng)發(fā)出的預(yù)設(shè)幅度調(diào)制信號輻射到納米探針處,使得納米探針與待測分子發(fā)生共振以產(chǎn)生熒光信號;通過共聚焦顯微裝置收集熒光信號;利用熒光信號處理系統(tǒng)處理熒光信號,得到待測分子的分子信息。本發(fā)明通過對納米探針施加了幅度調(diào)制微波,使納米探針與目標(biāo)自旋的共振條件不再依賴角度,避免了探針運(yùn)動導(dǎo)致的譜線展寬和畸變問題。 |
